Phoxter、製品の「高さ」を画像化する3Dレーザー測定器「SV-LPシリーズ」を発売
Phoxter、革新的な3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」を新発売
株式会社Phoxterは、2026年9月1日より、新しい3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」の販売を開始しました。この製品は、同社の画像処理コントローラー「StellaController 2.0」と直接連携し、これまでの検査では難しかった「高さ」の情報を画像として捉えることで、より正確な外観検査を可能にします。

従来の検査の課題を解決
製造現場では、製品の見た目を検査する際に、従来の2Dカメラではいくつかの問題がありました。例えば、製品の色ムラや光の反射によって、本当は問題がないのに誤って「不良品」と判断してしまったり、逆に目立たないキズやへこみを見逃してしまったりすることがありました。
特に、なだらかなへこみや、曲がった部分にあるキズなど、微妙な変化を見つけるのは非常に難しいとされています。これまでの3Dセンサーを使った検査方法も、基準面が一定でなかったり、計算が複雑になったりすることで、正確な判断が難しいという課題がありました。また、後からAI(人工知能)を使って検査をより高度にしようとしても、センサーとAIを動かすコンピューターの間でデータがうまく送れない、という壁にぶつかることもありました。
「高さ」の画像化で実現する高精度な検査
「SV-LPシリーズ」は、これらの課題を解決するために開発されました。この製品は、対象物をスキャンして、2Dでは見つけられなかった「高さ」の情報を高品質な画像に変換します。この「高さ画像」は、余分な機器を挟まずに、直接「StellaController 2.0」に送られます。
これにより、製品の色や光の加減に左右されず、なだらかな変化や曲がった部分のわずかな変化も正確にデータとして捉えることができます。結果として、これまで見つけるのが難しかったなだらかな打痕や、曲がった部分のキズなども正確に検出できるようになります。このシステムは、シンプルな構成で、将来的な機能追加にも対応しやすく、費用も抑えて導入できるのが強みです。
「SV-LPシリーズ」の主な特長
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超高速・高精細スキャン: 最速67,000Hzという速さでスキャンでき、X軸方向には最大3,200ポイントという非常に細かい解像度で画像を捉えられます。これにより、高速で動く生産ライン上のごく小さな異常も見逃さず、画像として記録できます。
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シンプルな機器構成: 3Dセンサー自体に3Dデータを処理する機能が組み込まれているため、別に中間機器を用意する必要がありません。処理しやすい形の3次元データを直接「StellaController 2.0」に送ることで、AIと従来のルールに基づく検査を組み合わせた、シンプルで費用対効果の高いシステムを提供します。
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高い耐久性: IP67という高い防護等級を持っており、湿気やホコリが多い場所でも安心して使用できます。
様々な業界での応用
「SV-LPシリーズ」は、電気自動車(EV)部品の精密化やスマートフォンの厳しい品質管理など、非常に細かい寸法測定が求められる業界で、すべての製品を生産ライン上で検査する「全数インライン検査」を実現します。

【自動車・EV部品の例】
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モーター部品の溶接痕や高さの検査
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EVバッテリーパックの見た目の寸法や膨らみの検査、溶接部分の検査
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電池の溶接部分に飛び散ったカス(スパッタ)や溶接穴の検査
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ボタン電池のへこみやキズの検査
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車載コネクタのピンの平らさや間隔の測定
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ドアやパネルの段差や隙間(チリ合わせ)の検査

【3C(電子機器・デバイス)・半導体の例】
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マザーボードに載っている部品の浮き具合を高精度に検査
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スマートフォン画面の浮きや隙間、接着状態の検査
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非常に小さなコネクタ端子やICチップのピンが同じ平面上にあるか(コプラナリティ)の検査
オンラインセミナー開催のお知らせ
「SV-LPシリーズ」の発売を記念して、「高さ画像」を活用した最新の外観検査について学べるオンラインセミナーが開催されます。
2D検査での誤検出にお悩みの方や、3D検査の導入を考えている方は、ぜひこの機会にご参加ください。
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開催日時: 2026年9月30日(水)
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第1回:12:00~12:30
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第2回:15:00~15:30
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プログラム内容:
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SV-LPシリーズの紹介
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2D検査と3D検査(高さ画像)の違いとメリット
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StellaController 2.0と連携したAI外観検査のデモンストレーション
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適用事例「電池のなだらかな打痕」の検出方法の変化 など
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参加費: 無料
セミナーの詳細確認やお申し込みは、以下のリンクから行えます。
https://www.phoxter.co.jp/news/sv-lp-seminar


